Comparative Power Analysis of LFSR Test Pattern Generators

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

AES vs LFSR Based Test Pattern Generation: A Comparative Study

The massive integration of several functionalities leads to increased test times/test data volume. Additionally, test content for more advanced fault models increase the tester memory requirements. On the positive side, the presence of many cores in a system provides the opportunity of core testing each other. In this paper we evaluate the opportunity to use AES cryptoprocessors as test pattern...

متن کامل

Implementation of Low Power Test Pattern Generator Using LFSR

In our project, we propose a novel architecture which generates the test patterns with reduced switching activities. LP-TPG (Test pattern Generator) structure consists of modified low power linear feedback shift register (LP-LFSR), m-bit counter; gray counter, NOR-gate structure and XOR-array. The m-bit counter is initialized with Zeros and which generates 2m test patterns in sequence. The m-bi...

متن کامل

analysis of power in the network society

اندیشمندان و صاحب نظران علوم اجتماعی بر این باورند که مرحله تازه ای در تاریخ جوامع بشری اغاز شده است. ویژگیهای این جامعه نو را می توان پدیده هایی از جمله اقتصاد اطلاعاتی جهانی ، هندسه متغیر شبکه ای، فرهنگ مجاز واقعی ، توسعه حیرت انگیز فناوری های دیجیتال، خدمات پیوسته و نیز فشردگی زمان و مکان برشمرد. از سوی دیگر قدرت به عنوان موضوع اصلی علم سیاست جایگاه مهمی در روابط انسانی دارد، قدرت و بازتولید...

15 صفحه اول

Implementation of Low Transition Lfsr Test Pattern for Logic Bist

A Low Transition LFSR(LT-LFSR) designed by modifying Linear Feedback Shift Register is proposed to produce low power test vectors which are given to Circuit under Test (CUT) to reduce the power consumption by CUT. This technique of generating low power test patterns is performed by increasing the co-relativity between the consecutive vectors by reducing the number of bit flips between successiv...

متن کامل

LFSR Reseeding Methodology for Low Power and Deterministic Pattern

An efficient low power built-in self-test methodology based on linear feedback shift register reseeding is proposed. This new method divides each test cube into several blocks and encodes that cube into a new test cube. In the new encoded test cube, the nontransitional blocks which no specified bits is included or only one kind of specified bit (1 or 0) is encoded into only one bit (1, 0, or X)...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: International Journal of Computer Applications

سال: 2014

ISSN: 0975-8887

DOI: 10.5120/17207-7426